JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀

關鍵詞：阻抗，高溫，導納圖，掃描,50MHZ

JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀是一款兼容高溫功能的精密阻抗分析儀，是一款能夠應用于先進材料測試的多功能復合型精密阻抗分析儀，該阻抗分析儀可以兼容多種高溫夾具，可以測試粉末，液體，塊體等多種不同類型的樣品。常溫下測試數(shù)據(jù)豐富，高溫下測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，無漂移。是一款兼顧中*端頻率的精密阻抗分析儀。在陶瓷及先進材料生產(chǎn)中和科研院校廣泛使用。

一、主要應用：

1、先進材料測試：高溫及常溫介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

2、高溫及常溫無源元件測試：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析。

3、高溫及常溫半導體元件：LED驅動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

4、高溫及常溫其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等阻抗評估

5高溫及常溫介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

6、高溫及常溫磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

7、高溫及常溫半導體材料：半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性

二、主要特點：

1、高溫及常溫進行先進材料測試阻抗各參數(shù)測試：諧振頻率Fs、反諧振頻率Fp、半功率點F1與F2、導納Gmax、靜電容C0、動態(tài)電抗R1、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、自由電容CT、自由介電常數(shù)、機械品質因素Qm、機電耦合系數(shù)Keff、Kp、K31、K33等

2、多種探頭滿足壓電陶瓷，液體，及粉末相關電學性能測試

3、高溫夾具及常溫測試裝置，設計精巧靈活，測試數(shù)據(jù)可靠

4、50MHZ高頻阻抗頻率滿足*端測試需求

5、1000攝氏度高溫條件下測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定無漂移，曲線與溫度對應

6、軟件功能豐富，數(shù)據(jù)即讀取，方便快捷

三、主要技術參數(shù)：

1、頻率范圍：20HZ-50MHZ

2、溫度：室溫-1000℃

3、阻抗參數(shù)：諧振頻率Fs、反諧振頻率Fp、半功率點F1與F2、導納Gmax、靜電容C0、動態(tài)電抗R1、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、自由電容CT、自由介電常數(shù)、機械品質因素Qm、機電耦合系數(shù)Keff、Kp、K31、K33等

4、電極材質:鉑銥合金(樣品有無電均可以測試)同軸屏蔽層

5、上電極   直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層

6、下電極： 直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層

7、保護電極：  消除寄生電容、邊界電容對測試的影響

8、電極干擾屏蔽：   電極引線帶同軸屏蔽，樣品平臺帶屏蔽罩

9、夾具升降控制：   帶程序和手動控制，可更換夾具的電動升降裝置

10、熱電偶:  雙探頭

11、無電極樣品尺寸 :    直徑小于40mm，厚度小于8mm

12、帶電極樣品尺寸:      直徑小于26mm，厚度小于8mm

13、軟件功能：自動分析數(shù)據(jù)，可以分類保存，樣品和測量方案結合在一起，生成系統(tǒng)所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

14、測量方案    提供靈活、豐富的測試設置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

15、接口方式：包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多種LCR接口，

16、外形尺寸:    L360mm*W370mm*H510mm

17、凈   重:      22KG