近紅外/ 可見(jiàn)光譜儀
TerraSpec 是用于礦物分析測(cè)量的光譜儀，光譜范圍為 350-2500 nm，光譜分辨率為 3 nm @
700 nm 和 6 nm @ 1400/2100 nm。
接觸探頭可提供與 TerraSpec 光譜儀一起使用的所有固體的非破壞性接觸反射測(cè)量。 該探
頭非常適合礦物樣品。 光源類型鹵素?zé)?，壽命（大約）1500 小時(shí)，鹵素?zé)舻纳珳?2911 +/-

10 度 K，光斑尺寸 10 毫米

TerraSpec 光譜儀通過(guò) Avaatech 核心掃描儀軟件使用與XRF測(cè)量相似的用戶界面進(jìn)行控制，
從而易于操作。
彩色線掃描相機(jī)
我們的彩色線掃描相機(jī)配備了 630nm、535nm 和 450nm 的 RGB 通道，以實(shí)現(xiàn)良好的通道
分離。相機(jī)包含 3 個(gè) 4096 像素的傳感器，每個(gè)像素在白色陶瓷參考瓷磚上校準(zhǔn)。該系統(tǒng)能
夠掃描長(zhǎng) 1600mm、寬 140mm 的物體（巖心樣品的**尺寸）。此外，線掃描軟件可以在
RGB 和 CIELAB 顏色空間生成視覺(jué)彩色圖像和顏色數(shù)據(jù)。然后，用戶可以在圖像內(nèi)定義產(chǎn)生
顏色數(shù)據(jù)的區(qū)域。在該區(qū)域中，交叉巖心方向上的像素被平均化，但在向下巖心方向上，獲
得了優(yōu)于 0.1mm 的分辨率。默認(rèn)情況下，系統(tǒng)會(huì)生成核心部分的 RGB 和 CIELAB 顏色數(shù)據(jù)，
該部分也會(huì)被 XRF“看到”?？梢远x的*小交叉核心區(qū)域是一個(gè)小于 0.1mm 的像素。
相機(jī)通過(guò)軟件控制。 成像軟件可用于指示（ir）巖芯上規(guī)則排列的興趣點(diǎn)（只需用鼠標(biāo)單
擊）。 這些位置可以添加到 XRF 軟件中，然后由 XRF 測(cè)量.
紫外線掃描
可以改變光源，例如從以下位置進(jìn)行 UV 發(fā)光測(cè)量，從珊瑚-碳酸鹽-石筍-貝殼-沉積物芯-冰
芯等處進(jìn)行紫外發(fā)光測(cè)量?？梢杂?380nm 的紫外光源代替光源，并使用截止濾光片。顏色
變化可以提供礦物學(xué)和有機(jī)質(zhì)含量等信息。為了產(chǎn)生高質(zhì)量的紫外圖像，需要較長(zhǎng)的光照時(shí)
間。為此，核心掃描儀在 x 軸上有一個(gè)特殊的**電動(dòng)機(jī)，齒輪傳動(dòng)低。
動(dòng) 電動(dòng) Y  軸 動(dòng) 電動(dòng) Y  軸
掃描儀的整個(gè)光源，檢測(cè)器和光學(xué)系統(tǒng)都可以在 Y 方向（垂直于纖芯深度）上移動(dòng)，精度
為 0.005 mm。與 X 方向（下芯）上的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量值結(jié)合使用時(shí)，此選項(xiàng)可對(duì)分裂芯表面進(jìn)行
2D 映射。
自動(dòng)橫芯切縫-Huber  切縫
關(guān)于 Y 軸（跨芯）方向上的可調(diào)狹縫開(kāi)口， XRF 核心掃描儀可以配備以下兩個(gè)選項(xiàng)之一：
手動(dòng)設(shè)置狹縫開(kāi)口（每個(gè)巖心掃描儀均標(biāo)配）或電機(jī)控制系統(tǒng)。**提到的是通過(guò)核心掃描
儀軟件進(jìn)行操作的，可輕松，精確地調(diào)整縫隙開(kāi)口。在這兩種情況下，Y 方向上的狹縫開(kāi)口
均可設(shè)置為 2 到 12 mm。
切芯機(jī)
我們的芯分離器專為高質(zhì)量切割內(nèi)襯塑料的巖心而設(shè)計(jì)?？v向分離機(jī)構(gòu)是完全電動(dòng)的，并使
用鉤形刀片將壁厚**為 3mm 的襯里分開(kāi)。壁厚較厚的襯板可以通過(guò)組合使用 2 個(gè)旋轉(zhuǎn)刀
具（可精確設(shè)置為部分切入襯板）和帶鉤刀片來(lái)完成切割，從而分開(kāi)。通過(guò)這些技術(shù)，可以
實(shí)現(xiàn)**的切割效果，并且避免了污染沉積物的塑料“切割樣品”。*終，未固結(jié)的沉積物本
身在實(shí)驗(yàn)室的工作臺(tái)上通過(guò)切割絲進(jìn)行分流。
LIBS
將激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）儀器集成到 XRF 巖心掃描儀中。像 XRF 一樣，LIBS 是用于化
學(xué)分析的成熟分析技術(shù)。LIBS 技術(shù)使用激光創(chuàng)建高溫等離子體，并記錄冷卻等離子體中特
定于元素的發(fā)射光譜。LIBS 是一種快速的測(cè)量技術(shù)，即一次測(cè)量所需的時(shí)間不到一秒，它
能夠檢測(cè)所有元素，包括 XRF 掃描儀未檢測(cè)到的光元素。
目的是結(jié)合 XRF 和 LIBS 技術(shù)的優(yōu)勢(shì)，開(kāi)發(fā)出功能更強(qiáng)大的核心掃描儀，該掃描儀可以為廣
泛的應(yīng)用提供快速而可靠的化學(xué)數(shù)據(jù)。LIBS 的集成將使核心掃描儀在采礦業(yè)的礦物勘探中
特別有用。
我們致力于與客戶進(jìn)行**性互動(dòng)，以交流經(jīng)驗(yàn)和新發(fā)現(xiàn)，從而使 XRF Core S